采用最先进的半导体工艺技术，开发了一种新的CT分辨率图用金(Au)吸收材料为5种不同尺寸的线和空间，从3微米到7微米。这是检查微聚焦x射线CT扫描系统性能的非常有用的工具，也可用于校准，设置，维护，日常校准等。
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