分辨率测试卡JIMA RT RC-04
采用最先进的半导体技术，有23种线和空间组成 实现了10 μm到0.1 μm的纳米量级。最先进的x射线成像 具有纳米焦点和微焦点分辨率的系统需要MicroChart来维护和控制 检查它的能力和日常校准。
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采用最先进的半导体技术，有23种线和空间组成实现了10 μm到0.1 μm的纳米量级。最先进的x射线成像具有纳米焦点和微焦点分辨率的系统需要MicroChart来维护和控制检查它的能力和日常校准。


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