光子计数x射线探测器XC-TDI
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工业行业快速双能光子计数探测器

TDI系列探测器特别适合需要高速、有时需要双能功能的线扫应用。高速扫描状态下,该技术保证了高分辨率、具备区分被测样品中不同物质的能力。

灵敏度高、实现高速线扫。探测器充分利用采集到线管功率要求。可靠的碲化镉(CdTe) 耐辐射能力的X射线,可生成高质量的图像。同时降低了对X射延长了探测器使用寿命。


产品特点

  • 双能成像实现物质区分

  • 能量选择范围大

  • 检测速度高

  • X射线源功率要求低

  • 图像分辨率高

  • 零噪声读取

  • 低剂量

  • 探测器使用寿命长


产品参数

传感器

技术                            双能光子计数

模式                            TDI双能高速

                                   TDI单能高速

                                   TDI能谱

转换介质                      碲化镉 (CdTe)

像素                             100 μm

像素填充                      100%

像素间隙                      100 μm


计数率

高速模式                       200 Mcnts / s / mm2

能谱模式                       20 Mcnts / s / mm2

AD位数最高                  18比特/帧

有效面积                        见产品范围

成像速度                        见产品范围

温度控制                        PWM效热电控制风扇

成像质量                         高速     能谱

MTF@1.0lp/mm             95%     90%

MTF@2.5lp/mm             70%     70%

MTF@4.0lp/mm             50%     60%

DQE@1.0lp/mm             70%     75%

DQE@2.5lp/mm             55%     55%

DQE@4.0l /mm              40%     35%

滞后                        0 %(X射线累计 6 μGy)

伪影                        < 0.1 %(射线开启1分钟 累计6 μGy后)


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